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龍圖騰網(wǎng)獲悉華邦電子股份有限公司申請的專利芯片測試裝置及系統(tǒng)獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN115236480B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-12發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202110442216.3，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01R31/28；該發(fā)明授權(quán)芯片測試裝置及系統(tǒng)是由賴志強;黃成慶設(shè)計研發(fā)完成，并于2021-04-23向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本芯片測試裝置及系統(tǒng)在說明書摘要公布了：本發(fā)明提供一種芯片測試裝置及系統(tǒng)，適用于對芯片群組中的多個芯片進行測試。芯片測試裝置包括信號接口以及測試設(shè)計電路。信號接口將來自測試設(shè)備的輸入信號及多個驅(qū)動信號并列傳送至每個芯片。測試設(shè)計電路通過信號接口接收來自芯片的多個輸出信號，并且根據(jù)輸出信號串行輸出測試數(shù)據(jù)至測試設(shè)備。

本發(fā)明授權(quán)芯片測試裝置及系統(tǒng)在權(quán)利要求書中公布了：1.一種芯片測試裝置，適用于對芯片群組中的多個芯片進行測試，所述芯片測試裝置包括： 信號接口，耦接所述芯片群組中的所述多個芯片，將來自測試設(shè)備的輸入信號及多個驅(qū)動信號并列傳送至每個芯片；以及 測試設(shè)計電路，耦接所述信號接口，通過所述信號接口接收來自所述多個芯片的多個輸出信號，并且根據(jù)所述多個輸出信號串行輸出測試數(shù)據(jù)至所述測試設(shè)備， 所述信號接口包括： 緩沖電路，耦接每個芯片以及所述測試設(shè)計電路， 其中，所述緩沖電路反應(yīng)于從所述多個芯片傳送的多個輸出致能信號而將從所述多個芯片輸出的所述多個輸出信號并列傳送至所述測試設(shè)計電路，所述測試設(shè)計電路反應(yīng)于所述多個驅(qū)動信號中的時鐘信號將所述多個輸出信號依序作為所述測試數(shù)據(jù)串行傳送至輸入輸出接墊，以串行輸出所述測試數(shù)據(jù)至所述測試設(shè)備。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人華邦電子股份有限公司，其通訊地址為：中國臺灣臺中市大雅區(qū)科雅一路8號；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。