買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監(jiān)控用IP管家,真方便！

龍圖騰網(wǎng)獲悉株式會社電裝申請的專利光學(xué)式檢測裝置以及光學(xué)式檢測裝置中的光軸偏移判定方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN115176171B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-12發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202180016629.3，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01S7/497；該發(fā)明授權(quán)光學(xué)式檢測裝置以及光學(xué)式檢測裝置中的光軸偏移判定方法是由清野光宏設(shè)計研發(fā)完成，并于2021-02-15向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本光學(xué)式檢測裝置以及光學(xué)式檢測裝置中的光軸偏移判定方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明提供一種光學(xué)式檢測裝置10。光學(xué)式檢測裝置10具備：發(fā)光部30，具備多個發(fā)光元件32；受光部20，具備受光元件陣列22，該受光元件陣列22由接受與發(fā)光部30的照射光相應(yīng)的反射光的多個受光像素形成；儲存部，儲存與發(fā)光部30的照射光所包含的光強度斑的產(chǎn)生位置對應(yīng)的受光元件陣列22中的基準受光區(qū)域；以及判定部100，使用基準受光區(qū)域和受光元件陣列22中的照射光的反射光所包含的光強度斑的檢測受光區(qū)域的位置偏移來判定光軸偏移。

本發(fā)明授權(quán)光學(xué)式檢測裝置以及光學(xué)式檢測裝置中的光軸偏移判定方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種光學(xué)式檢測裝置，具備： 發(fā)光部，具備多個發(fā)光元件； 受光部，具備受光元件陣列，上述受光元件陣列由接受與上述發(fā)光部的照射光相應(yīng)的反射光的多個受光像素形成； 儲存部，儲存與上述發(fā)光部的照射光所包含的光強度斑的產(chǎn)生位置對應(yīng)的上述受光元件陣列中的基準受光區(qū)域；以及 判定部，使用上述基準受光區(qū)域和上述受光元件陣列中的上述照射光的反射光所包含的光強度斑的檢測受光區(qū)域的相互位置是否一致的上述光強度斑的偏移來判定光軸偏移， 上述光強度斑是由上述多個發(fā)光元件的照射光的重疊區(qū)域與上述多個發(fā)光元件的照射光的非照射區(qū)域的各區(qū)域的發(fā)光強度的高低差形成的。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人株式會社電裝，其通訊地址為：日本愛知縣；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。