買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標用IPTOP,全免費！專利年費監控用IP管家,真方便！

龍圖騰網獲悉沐曦集成電路(上海)股份有限公司申請的專利芯片測試用例的構建方法、電子設備和介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120234256B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-15發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510726153.2，技術領域涉及：G06F11/3668；該發明授權芯片測試用例的構建方法、電子設備和介質是由王定;郭小新設計研發完成，并于2025-06-03向國家知識產權局提交的專利申請。

本芯片測試用例的構建方法、電子設備和介質在說明書摘要公布了：本發明涉及芯片技術領域，尤其涉及一種芯片測試用例的構建方法、電子設備和介質，方法包括步驟S1、構建目標測試用例重構結構{C0,（C1,B1）,C2,B2,...,Cn,Bn,...,CN,BN}；步驟S2、解析所述目標測試用例重構結構，獲取C0，然后并行獲取每一Cn和Bn；步驟S3、并行解析每一Bn，獲取每一Fi n；步驟S4、基于每一Fi n、Fi n對應的Cn、C0生成待測芯片設計的所有芯片測試用例。本發明提高了芯片測試用例的構建效率和準確性。

本發明授權芯片測試用例的構建方法、電子設備和介質在權利要求書中公布了：1.一種芯片測試用例的構建方法，其特征在于，包括： 步驟S1、構建目標測試用例重構結構{C0,（C1,B1）,C2,B2,...,Cn,Bn,...,CN,BN}，C0為待測芯片設計對應的共享測試用例配置信息，Cn為待測芯片設計的第n個子設計對應的共享測試用例配置信息，Bn為待測芯片設計的第n組測試用例重構信息列表，n的取值范圍為1到N，N為待測芯片設計的子設計總數，Bn={F1 n,F2 n,...,Fi n,...,Fan n}，Fi n為第n組測試用例重構信息列表中的第i個測試用例重構信息，i的取值范圍為1到an，an為Bn對應的測試用例重構信息總數； 步驟S2、解析所述目標測試用例重構結構，獲取C0，然后并行獲取每一Cn和Bn； 步驟S3、并行解析每一Bn，獲取每一Fi n； 步驟S4、基于每一Fi n、Fi n對應的Cn、C0生成待測芯片設計的所有芯片測試用例； 每一Fi n包括用戶標識、待測設計配置信息、運行參數、循環次數、測試用例組和運行時間中的一個或多個；C0、Cn包括待測設計配置信息、運行參數、循環次數和運行時間中的一個或多個； 所述步驟S4包括： 步驟S41、獲取Fi n對應的用戶標識和測試用例組{T1 in,T2 in,...,Tj in,...,Tbin in}，Tj in為Fi n對應的第j個測試用例信息，j的取值范圍為1到bin,bin為Fi n對應的測試用例組測試用例的個數； 步驟S42、若Fi n中設置有預設參數，則將Fi n中的預設參數確定為Tj in對應的目標參數，否則，執行步驟S43，所述預設參數為待測設計配置信息、運行參數、循環次數、測試用例組或運行時間； 步驟S43、若Cn中設置有預設參數，則將Cn中的預設參數確定為Tj in對應的目標參數，否則，執行步驟S44； 步驟S44、若C0中設置有預設參數，則將C0的預設參數確定為Tj in對應的目標參數，執行步驟S45，否則，生成提示信息，結束流程； 步驟S45、基于每一Tj in、每一Tj in對應的用戶標識和每一Tj in對應的所有目標參數生成每一Tj in對應的測試用例。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人沐曦集成電路(上海)股份有限公司，其通訊地址為：201203 上海市浦東新區中國(上海)自由貿易試驗區郭守敬路498號8幢19號樓3層；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。