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龍圖騰網獲悉蘇州華碧微科檢測技術有限公司申請的專利一種板端射頻連接器凈插入損耗的測試裝置及測試方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114994576B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-15發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210564434.9，技術領域涉及：G01R31/66；該發明授權一種板端射頻連接器凈插入損耗的測試裝置及測試方法是由請求不公布姓名設計研發完成，并于2022-05-23向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種板端射頻連接器凈插入損耗的測試裝置及測試方法在說明書摘要公布了：本發明涉及連接器領域，公開了一種板端射頻連接器凈插入損耗的測試裝置，包括測試板和設置在測試板上的第一參考線路和測試線路，所述第一參考線路的長度是測試線路長度的兩倍。在本發明中的第一參考線路的長度是測試線路長度的兩倍，也就是說采用參考線路trace2倍率于測試線路trace的長度，能夠有效降低外接SMA或SMK接口質量水準的不同而引入的損耗，提高測試精度，連接器凈插入損耗更接近真實值。

本發明授權一種板端射頻連接器凈插入損耗的測試裝置及測試方法在權利要求書中公布了：1.一種板端射頻連接器凈插入損耗的測試方法，其特征在于：所述方法基于測試裝置實現，所述裝置包括：包括測試板和設置在測試板上的第一參考線路和測試線路，所述第一參考線路的長度是測試線路長度的兩倍；所述第一參考線路包括一對第一連接頭和第一連接線，所述第一連接頭安裝在測試板上，所述第一連接線的兩端分別連接在對應的第一連接頭上；所述第一連接線呈U形結構； 所述測試線路包括第二連接頭、第二連接線和連接器，所述第二連接頭安裝在測試板上，所述第二連接線的一端與第二連接頭相連，所述第二連接線的另一端與連接器的一端相連，所述第一連接線的長度是第二連接線的長度的兩倍；所述裝置還包括第二參考線路和第三參考線路，所述第二參考線路包括一對第三連接頭、以及連接在第三連接頭之間的第三連接線，所述第三連接頭均安裝在測試板上，所述第三連接線與第二連接線等長；所述第三參考線路的長度是第二連接線的長度的兩倍，所述第三參考線路連接在連接器的另一端； 所述方法包括以下測試步驟： 獲取參考插入損耗IL參考； 獲取測試插入損耗IL測試； 計算出連接器的凈插入損耗IL連接器：IL連接器=IL測試-n*IL參考，其中，n為實數； 所述參考插入損耗包括第一參考路線插入損耗IL參考1、第二參考線路插入損耗IL參考2以及第三參考線路插入損耗的插入損耗IL參考3； 當參考插入損耗為第一參考路線插入損耗IL參考1時，則連接器的凈插入損耗為： IL連接器=IL測試-12IL參考1； 所述參考插入損耗為第二參考路線插入損耗IL參考2時，則連接器的凈插入損耗為： IL連接器=IL測試-IL參考2； 所述參考插入損耗為第一參考線路插入損耗IL參考1和第三參考線路插入損耗的插入損耗IL參考3時，則連接器的凈插入損耗為： IL連接器=IL測試-12IL參考2-12IL參考3。

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