中芯國際集成電路制造(上海)有限公司;中芯國際集成電路制造(北京)有限公司范偉海獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中芯國際集成電路制造(上海)有限公司;中芯國際集成電路制造(北京)有限公司申請的專利芯片失效參數的預測方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114791553B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-19發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202110107069.4，技術領域涉及：G01R31/28；該發明授權芯片失效參數的預測方法是由范偉海設計研發完成，并于2021-01-26向國家知識產權局提交的專利申請。
本芯片失效參數的預測方法在說明書摘要公布了：一種芯片失效參數的預測方法，包括：提供若干測試芯片；對若干測試芯片進行失效測試，獲取N個測試數據；對N個測試數據進行分段處理，獲取n個模型數據段，每段所述模型數據段中包括Mi個所述測試數據；獲取每段所述模型數據段的線性擬合模型；獲取每段模型數據段相對于所述測試數據的模型占比；根據每段所述模型數據段的線性擬合模型和每段所述模型數據段的模型占比，獲取芯片預測失效模型。通過將每段模型數據段下的線性擬合模型均考慮進去，并按照對應的模型占比獲得權重，使得最終獲取的芯片預測失效模型更為全面的反應出若干所述測試數據的分布特點，進而使得后續通過所述芯片預測失效模型所獲取的芯片預測失效參數的精確度也有效提升。
本發明授權芯片失效參數的預測方法在權利要求書中公布了：1.一種芯片失效參數的預測方法，其特征在于，包括： 提供若干測試芯片； 對若干所述測試芯片進行失效測試，獲取N個測試數據，每個所述測試數據包括：失效時間以及與所述失效時間對應的芯片失效率； 對N個所述測試數據進行分段處理，獲取n個模型數據段，每段所述模型數據段中包括個所述測試數據，且所述≤N； 獲取每段所述模型數據段的線性擬合模型； 獲取每段所述模型數據段相對于所述測試數據的模型占比，所述模型占比=N； 根據每段所述模型數據段的線性擬合模型和每段所述模型數據段的模型占比，獲取芯片預測失效模型。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人中芯國際集成電路制造(上海)有限公司;中芯國際集成電路制造(北京)有限公司，其通訊地址為：201203 上海市浦東新區張江路18號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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