大塚電子株式會社泉谷悠介獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉大塚電子株式會社申請的專利光散射測定裝置以及測定用夾具獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號為:CN114509372B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-26發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為:202111360763.3,技術(shù)領(lǐng)域涉及:G01N15/00;該發(fā)明授權(quán)光散射測定裝置以及測定用夾具是由泉谷悠介;若山育央;長澤廣也設(shè)計研發(fā)完成,并于2021-11-17向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本光散射測定裝置以及測定用夾具在說明書摘要公布了:本發(fā)明提供一種光散射測定裝置以及測定用夾具,能實施前向測定或者側(cè)向測定和后向測定雙方,且具有單個受光器,由此小型且低成本。一種光散射測定裝置,具有:光源;單個受光器;試樣保持部,具有試樣池、框體以及光學(xué)元件,其中,該框體具有配置試樣池的保持空間、形成為用于前向測定或者側(cè)向測定中的至少任意一方的測定的第一光路的入射部的第一開口以及形成為用于后向測定的第二光路的入射部的第二開口,該光學(xué)元件具有與空腔的側(cè)面成一定的角度的第一面;以及移動機構(gòu),使測定用夾具在鉛垂方向移動。光學(xué)元件配置于第一光路或者第二光路的入射部或者出射部。第一光路和第二光路在鉛垂方向分離。移動機構(gòu)在進行前向測定或者側(cè)向測定的情況下,使第一開口移動至第一光路的入射部的位置,在進行后向測定的情況下,使第二開口移動至第二光路的入射部的位置。
本發(fā)明授權(quán)光散射測定裝置以及測定用夾具在權(quán)利要求書中公布了:1.一種光散射測定裝置,其特征在于,具有: 光源,產(chǎn)生照射至試樣的入射光; 單個受光器,配置于接受從所述試樣射出的散射光的位置,測定該散射光的強度; 試樣保持部,具有試樣池、框體以及光學(xué)元件,其中,該試樣池具有容納所述試樣的空腔,該框體具有配置所述試樣池的保持空間、形成于用于入射光與散射光所成的散射角度為100度以下的前向測定或者側(cè)向測定中的至少任意一方的測定的第一光路的入射部的第一開口以及形成于用于散射角度大于100度的后向測定的第二光路的入射部的第二開口,該光學(xué)元件具有與所述空腔的側(cè)面成一定的角度的第一面;以及 移動機構(gòu),使所述試樣保持部在鉛垂方向移動, 所述光學(xué)元件配置于所述第一光路和所述第二光路中的至少一方的光路的入射部或者出射部中的至少一方, 所述第一光路和所述第二光路在鉛垂方向分離, 所述移動機構(gòu)在進行所述前向測定和所述側(cè)向測定中的至少任意一方的測定的情況下,使所述第一開口移動至所述第一光路的入射部的位置,在進行所述后向測定的情況下,使所述第二開口移動至所述第二光路的入射部的位置。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人大塚電子株式會社,其通訊地址為:日本大阪府枚方市;或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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