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龍圖騰網獲悉深存科技(無錫)有限公司申請的專利面板灰塵與缺陷檢測方法、裝置、設備及存儲介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120471927B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-05發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510977601.6，技術領域涉及：G06T7/00；該發明授權面板灰塵與缺陷檢測方法、裝置、設備及存儲介質是由請求不公布姓名設計研發完成，并于2025-07-16向國家知識產權局提交的專利申請。

本面板灰塵與缺陷檢測方法、裝置、設備及存儲介質在說明書摘要公布了：本申請公開面板灰塵與缺陷檢測方法、裝置、設備及存儲介質，涉及圖像識別領域。通過AOI機臺拍攝待測面板在測試光源下的報點光照圖和無光源下的報點無光圖，識別報點光照圖中包含的所有疑似缺陷點；進而從兩個報點圖中裁剪出光照待檢子圖和無光待檢子圖，并進行閾值二值化處理，從二值化圖像中提取缺陷輪廓；根據無光待檢子圖中缺陷輪廓的像素面積篩選疑似灰塵點，將兩個待檢子圖中對應疑似灰塵點的缺陷輪廓進行相似度匹配，根據匹配結果確定出灰塵點與真實缺陷點。通過多光源條件下的圖像特征對比與幾何形態匹配機制，結合缺陷輪廓的像素面積篩選與跨光源相似度分析，有效區分因環境干擾產生的假缺陷與面板本體缺陷。

本發明授權面板灰塵與缺陷檢測方法、裝置、設備及存儲介質在權利要求書中公布了：1.一種面板灰塵與缺陷檢測方法，其特征在于，所述方法包括： 通過自動化光學檢測AOI機臺拍攝待測面板在測試光源下的報點光照圖，在識別報點光照圖中的疑似缺陷點時，獲取所述待測面板在無光源下的報點無光圖； 獲取所述待測面板在不同測試光源下的報點光照圖，輪詢其中所有疑似缺陷點，并建立所述疑似缺陷點與所屬報點光照圖的映射關系；在識別階段輪詢報點光照圖，將所有已確定灰塵點與真實缺陷點標記到所有未識別報點光照圖中；根據已確定灰塵及缺陷坐標過濾所述未識別報點光照圖中相同位置的疑似缺陷點，基于剩余疑似缺陷點裁剪出對應的光照待檢子圖和無光待檢子圖； 分別對所述光照待檢子圖和所述無光待檢子圖進行閾值二值化處理，并從二值化圖像中提取缺陷輪廓； 根據所述無光待檢子圖中缺陷輪廓的像素面積篩選疑似灰塵點，并將所述光照待檢子圖和所述無光待檢子圖中對應所述疑似灰塵點的缺陷輪廓進行相似度匹配，包括計算輪廓形狀參數與面積參數的相似度值，根據相似度值匹配結果確定出灰塵點與真實缺陷點；其中的輪廓形狀參數包括Hu矩值。

如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人深存科技(無錫)有限公司，其通訊地址為：214000 江蘇省無錫市新吳區弘毅路10號金乾座401、402室；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。