中國工程物理研究院應用電子學研究所鄧婷獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉中國工程物理研究院應用電子學研究所申請的專利一種基于拍屏的橫向剪切波前探測系統及方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN120403876B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-09-05發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202510905072.9,技術領域涉及:G01J9/02;該發明授權一種基于拍屏的橫向剪切波前探測系統及方法是由鄧婷;嚴偉;魏蔚;雷德川;沙子杰;羅子浩設計研發完成,并于2025-07-02向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種基于拍屏的橫向剪切波前探測系統及方法在說明書摘要公布了:本發明提供了一種基于拍屏的橫向剪切波前探測系統及方法,其中所述系統包括:剪切板,用于使待測波前在兩個正交方向上產生剪切干涉條紋;散射屏,沿光路傳播方向設置于剪切板之后,用于顯示剪切板剪切后的干涉條紋圖像;圖像采集單元,用于采集所述散射屏的干涉條紋圖像;數據處理單元,與所述圖像采集單元通信連接,用于計算待測波前信息。本發明無需將待測波前縮束至相機靶面大小,減小了平行光管測量難度的同時也減小了縮束器像差對測量準確度的影響。與現有技術相比,解決了較平行光管自身波前像差直接測量困難、不能準確給出像差分量及大小的問題,實現了對平行光管波前像差的定量測量,提高了測量的準確性和效率。
本發明授權一種基于拍屏的橫向剪切波前探測系統及方法在權利要求書中公布了:1.一種基于拍屏的橫向剪切波前探測系統,其特征在于,包括: 剪切板(100),用于使待測波前在兩個正交方向上產生剪切干涉條紋; 散射屏(200),沿光路傳播方向設置于剪切板(100)之后,用于顯示剪切板(100)剪切后的干涉條紋圖像; 圖像采集單元(300),用于采集所述散射屏(200)的干涉條紋圖像; 數據處理單元(400),與所述圖像采集單元(300)通信連接,用于計算待測波前信息; 所述剪切板(100)包括第一剪切板(1)和第二剪切板(5); 所述第一剪切板(1)用于使待測波前在第一橫向剪切方向產生剪切干涉條紋,所述第二剪切板(5)用于使待測波前在第二橫向剪切方向產生剪切干涉條紋; 所述第二橫向剪切方向與第一橫向剪切方向正交; 所述散射屏(200)包括第一散射屏(2)和第二散射屏(6); 所述第一散射屏(2)沿光路傳播方向設置于第一剪切板(1)之后,且位于與第一橫向剪切方向垂直的平面,用于顯示第一剪切板(1)剪切后的干涉條紋圖像; 所述第二散射屏(6)沿光路傳播方向設置于第二剪切板(5)之后,且位于與第二橫向剪切方向垂直的平面,用于顯示第二剪切板(5)剪切后的干涉條紋圖像; 所述第一剪切板(1)和第二剪切板(5)為楔形光學平板,采用干涉儀將楔形光學平板的楔角產生的傾斜光程差信息預先標定并存儲于數據處理單元(400)中。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術,可聯系本專利的申請人或專利權人中國工程物理研究院應用電子學研究所,其通訊地址為:621900 四川省綿陽市游仙區綿山路64號919-1015信箱;或者聯系龍圖騰網官方客服,聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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