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龍圖騰網(wǎng)獲悉長沙理工大學申請的專利一種測量二維材料的平均片層直徑的方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN115615893B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-08發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202211070977.1，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01N15/08；該發(fā)明授權(quán)一種測量二維材料的平均片層直徑的方法是由尹崇山;何春清;曾清;龍力濤設(shè)計研發(fā)完成，并于2022-09-02向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種測量二維材料的平均片層直徑的方法在說明書摘要公布了：本發(fā)明涉及一種測量二維材料的平均片層直徑的方法，將待測量的二維材料、粘合劑和溶劑混合均勻，使得二維材料分散于溶劑中，粘合劑溶解于溶劑中，獲得二維材料粘合劑混合溶液；將所述二維材料粘合劑混合溶液于過濾膜上過濾，獲得面積為S、厚度為T的二維材料粘合劑復合膜；測量所述二維材料粘合劑復合膜的氣體透過率P；根據(jù)待測量的二維材料的平均片層半徑R與氣體透過率P之間的關(guān)系式：R＝ASx?PTSxPmB計算，獲得待測量的二維材料的平均片層直徑。本發(fā)明的方法通過氣體滲透性測試和計算，即可簡單快捷，可迅速、直接的得到大量二維材料的平均片層直徑、平均片層半徑。

本發(fā)明授權(quán)一種測量二維材料的平均片層直徑的方法在權(quán)利要求書中公布了：1.一種測量二維材料的平均片層直徑的方法，其特征在于，包括如下步驟： S1、將待測量的二維材料、粘合劑和溶劑混合均勻，使得二維材料分散于溶劑中，粘合劑溶解于溶劑中，獲得二維材料粘合劑混合溶液； 其中，同厚度條件下，待測量的二維材料的氣體透過率小于粘合劑的氣體透過率； S2、將所述二維材料粘合劑混合溶液于過濾膜上過濾，干燥，獲得面積為S、厚度為T的二維材料粘合劑復合膜； 其中，所述過濾膜的濾孔的孔徑小于二維材料的尺寸； S3、測量所述二維材料粘合劑復合膜的氣體透過率P； S4、根據(jù)待測量的二維材料的平均片層半徑R與氣體透過率P之間的關(guān)系式：計算，獲得待測量的二維材料的平均片層直徑； 其中，m為二維材料粘合劑復合膜中二維材料的質(zhì)量，x為二維材料的理論面密度，A、B均為常數(shù)； 通過如下方法之一確定常數(shù)A： 方法1：制備一張純的粘合劑膜，測量該粘合劑膜的氣體透過率P0和厚度T0，則常數(shù)A=P0×T0； 方法2：（1）將平均片層直徑為2R Y 的同種二維材料、粘合劑和溶劑混合均勻，使得二維材料分散于溶劑中，粘合劑溶解于溶劑中，獲得二維材料粘合劑混合溶液； （2）將所述二維材料粘合劑混合溶液于過濾膜上過濾，獲得面積為S Y 、厚度為T Y 的二維材料粘合劑復合膜； （3）測量所述二維材料粘合劑復合膜’的氣體透過率P Y ； （4）根據(jù)關(guān)系式，計算常數(shù)A； 其中，m Y 為二維材料粘合劑復合膜中二維材料的質(zhì)量，x Y 為平均片層直徑為2R Y 的二維材料的理論面密度； 常數(shù)B=0.85。

如需購買、轉(zhuǎn)讓、實施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)＠麢?quán)人長沙理工大學，其通訊地址為：410114 湖南省長沙市天心區(qū)萬家麗南路二段960號；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。