合肥康芯威存儲技術有限公司余玉獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉合肥康芯威存儲技術有限公司申請的專利存儲芯片測試數據的配置系統及配置方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120164517B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-12發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510645020.2，技術領域涉及：G11C29/56；該發明授權存儲芯片測試數據的配置系統及配置方法是由余玉;許展榕設計研發完成，并于2025-05-20向國家知識產權局提交的專利申請。
本存儲芯片測試數據的配置系統及配置方法在說明書摘要公布了：本發明提出存儲芯片測試數據的配置系統及配置方法，配置系統包括：控制單元，用于控制至少一個功能模塊進行工作，并向存儲芯片寫入初始測試數據，并監控進行工作的功能模塊中的功能節點；初始測試數據包括多種測試指令；控制單元統計每個工作的功能模塊中每個功能節點執行測試指令的工作次數；功能模塊的功能節點每執行一次測試指令，其工作次數加一；控制單元根據預設的閾值區間、每個功能節點對應的工作次數，在初始測試數據中調整測試指令數量，以使每個功能節點對應的工作次數位于閾值區間內時，將調整后的初始測試數據生成目標測試數據。本發明可減少存儲芯片測試時間及測試成本。
本發明授權存儲芯片測試數據的配置系統及配置方法在權利要求書中公布了：1.一種存儲芯片測試數據的配置系統，其特征在于，包括： 芯片測試座，用于安裝存儲芯片；所述存儲芯片包括多個功能模塊，每個所述功能模塊對應多個功能節點，所述功能節點表示執行測試指令的最小執行單元； 控制單元，用于控制至少一個所述功能模塊進行工作，并向所述存儲芯片寫入初始測試數據，并監控進行工作的功能模塊中的功能節點；所述初始測試數據包括多種測試指令； 所述控制單元統計每個工作的功能模塊中每個功能節點執行測試指令的工作次數；所述功能模塊的功能節點每執行一次測試指令，其工作次數加一； 所述控制單元根據預設的閾值區間、每個功能節點對應的工作次數，在所述初始測試數據中調整測試指令數量，以使每個功能節點對應的工作次數位于所述閾值區間內時，將調整后的測試數據生成目標測試數據。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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