買專利賣專利找龍圖騰，真高效！ 查專利查商標(biāo)用IPTOP,全免費(fèi)！專利年費(fèi)監(jiān)控用IP管家,真方便！

龍圖騰網(wǎng)獲悉西安核設(shè)備有限公司申請(qǐng)的專利雙T型焊接接頭射線檢測(cè)方法獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN120064338B 。

龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-12發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202510554097.9，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01N23/04；該發(fā)明授權(quán)雙T型焊接接頭射線檢測(cè)方法是由金浩;羅干;張永;樊軍杰;殷甲琦;王軍;楊志新;王輝設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2025-04-29向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本雙T型焊接接頭射線檢測(cè)方法在說(shuō)明書(shū)摘要公布了：本發(fā)明屬于射線檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種針對(duì)雙T型焊接接頭的射線檢測(cè)方法。通過(guò)雙壁垂直透照與雙壁傾斜透照協(xié)同檢測(cè)技術(shù)，實(shí)現(xiàn)焊縫全厚度覆蓋檢測(cè)，確保未焊透、未熔合等缺陷的100%檢出，并精準(zhǔn)定位缺陷的空間分布。結(jié)合力學(xué)性能驗(yàn)證，確保焊接接頭的安全性和可靠性。通過(guò)優(yōu)化檢測(cè)流程和分區(qū)透照工藝，檢測(cè)周期縮短42%，返修定位精度提升至±0.5mm，減少無(wú)效返修區(qū)域達(dá)65%。允許存在一定范圍內(nèi)的未焊透和根部?jī)?nèi)凹缺陷，避免了全面返修帶來(lái)的高成本和結(jié)構(gòu)變形風(fēng)險(xiǎn)，實(shí)現(xiàn)了工藝經(jīng)濟(jì)性與質(zhì)量控制需求的平衡。同時(shí)，利用數(shù)字圖像處理技術(shù)，建立三維缺陷圖譜，為后續(xù)工藝優(yōu)化提供量化依據(jù)。本發(fā)明為復(fù)雜幾何結(jié)構(gòu)焊接接頭的質(zhì)量控制提供了系統(tǒng)性解決方案。

本發(fā)明授權(quán)雙T型焊接接頭射線檢測(cè)方法在權(quán)利要求書(shū)中公布了：1.雙T型焊接接頭射線檢測(cè)方法，其特征在于，包括以下步驟： S1.根據(jù)焊縫曲率變化和透照厚度差，將焊縫劃分為多個(gè)檢測(cè)區(qū)段，并通過(guò)工藝試驗(yàn)驗(yàn)證各區(qū)段的最優(yōu)透照參數(shù)； 具體工藝試驗(yàn)包括：在試驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)底片黑度過(guò)高3.0時(shí)，降低射線機(jī)管電壓或者縮短曝光時(shí)間；在試驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)底片黑度過(guò)低2.4時(shí)，提高射線機(jī)管電壓或延長(zhǎng)曝光時(shí)間；對(duì)高散射區(qū)段增加0.1mm銅箔； S2.通過(guò)定向射線機(jī)控制射源至工件表面的垂直距離以及射源平移距離，確保幾何不清晰度mm； 其中滿足，式中，為有效焦點(diǎn)尺寸；為射源側(cè)工件表面至膠片的距離； 滿足，式中，為射源至膠片的垂直距離；為射源至工件表面的垂直距離；為焊縫寬度； S3.采用雙壁雙影重疊垂直透照法對(duì)雙T型結(jié)構(gòu)焊縫進(jìn)行初步檢測(cè)：射源布置于雙T型接頭兩側(cè)，使焊縫影像重疊成像，獲取焊縫及熱影響區(qū)的缺陷影像； S4.若檢測(cè)到未熔合、未焊透或根部?jī)?nèi)凹缺陷，采用雙壁單影傾斜透照法對(duì)缺陷進(jìn)行三維精確定位：射源傾斜角度； S5.基于力學(xué)性能試驗(yàn)數(shù)據(jù)設(shè)定動(dòng)態(tài)容限驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)，所述動(dòng)態(tài)容限驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的制定包括以下步驟： S51.對(duì)含缺陷的焊接試樣進(jìn)行拉伸試驗(yàn)，測(cè)試抗拉強(qiáng)度、屈服強(qiáng)度及延伸率； S52.若試樣抗拉強(qiáng)度≥555MPa且延伸率≥73%，則允許未焊透深度≤2mm，未熔合缺陷零容忍； S6.將射線檢測(cè)數(shù)據(jù)與三維缺陷圖譜、灰度直方圖分析結(jié)合，建立驗(yàn)收依據(jù)：所述三維缺陷圖譜通過(guò)雙壁單影傾斜透照法獲取，缺陷空間定位誤差≤±0.3mm，并基于灰度直方圖分析區(qū)分未焊透、根部?jī)?nèi)凹及未熔合缺陷。

如需購(gòu)買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù)，可聯(lián)系本專利的申請(qǐng)人或?qū)＠麢?quán)人西安核設(shè)備有限公司，其通訊地址為：710021 陜西省西安市未央?yún)^(qū)北郊徐家灣渭濱街5號(hào)；或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服，聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。