福斯分析儀器公司P·W·漢森獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉福斯分析儀器公司申請的專利校正光譜儀中的振幅變化的方法獲國家發明授權專利權,本發明授權專利權由國家知識產權局授予,授權公告號為:CN114270171B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-15發布的發明授權授權公告中獲悉:該發明授權的專利申請號/專利號為:202080038700.3,技術領域涉及:G01N21/27;該發明授權校正光譜儀中的振幅變化的方法是由P·W·漢森;J·S·克勞森設計研發完成,并于2020-05-29向國家知識產權局提交的專利申請。
本校正光譜儀中的振幅變化的方法在說明書摘要公布了:一種校正光譜測定儀器300的輸出中的由于通過樣品保持器600的光學路徑長度L的變化而引起的振幅變化的方法,所述方法包括:在多個波數下使樣品保持器600中的樣品暴露于電磁輻射;在所述多個波數下檢測所述樣品中的電磁吸收強度;向計算機裝置510提供針對波數索引的檢測到的吸收強度作為光譜數據;以及在所述計算機裝置510中將數學變換Icorr應用于所述光譜數據以校正所述光譜測定儀器300的輸出中的振幅變化,并且通過確定在兩個不同波數范圍下在來自零材料樣品的光譜數據SBZl的一階導數下的吸光度值之間的差ΔSBZ來計算所述數學變換;以及計算作為與所確定的差ΔSBZ逆相關的函數的所述數學變換Icorr。
本發明授權校正光譜儀中的振幅變化的方法在權利要求書中公布了:1.一種校正光譜測定儀器的輸出中的由于通過樣品保持器600的光學路徑長度L的改變而引起的振幅變化的方法,所述方法包括:在多個波數下使所述樣品保持器600中的未知樣品暴露于電磁輻射;由所述光譜測定儀器檢測所述未知樣品在所述多個波數下的電磁吸收強度;向與所述光譜測定儀器相關聯的計算機裝置提供針對波數索引的檢測到的吸收強度作為光譜數據;在樣品保持器中測量樣品相對于零材料的吸光度值;以及借助于所述計算機裝置將強度校正Icorr應用于所生成的吸光度值以校正所述光譜測定儀器的所述輸出中的所述振幅變化;其中所述方法進一步包括:在所述計算機裝置中通過確定在第一波數范圍x1下來自所述零材料的對數變換光譜數據的一階導數log10SBZx1與在第二波數范圍x2下來自所述零材料的對數變換光譜數據的一階導數log10SBZx2之間的差ΔSBZ來計算所述強度校正Icorr;以及計算作為與所確定的差ΔSBZ逆相關的函數的所述強度校正Icorr如下: 1Icorr=c1·ΔSBZ+c2+corrhum 其中,值c1、c2和濕度校正corrhum的公式在使用時經實驗確定;常數c1僅與標稱路徑長度L0下水相對于空氣的吸收相關;常數c2是對歸因于干燥空氣的背景的貢獻;并且校正corrhum是基于零材料的單波束光譜SBZ中的濕度特征的振幅的校正; 其中,零材料是水。
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