湖北長江萬潤半導體技術有限公司楊文獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉湖北長江萬潤半導體技術有限公司申請的專利一種基于AI技術的存儲器測試方法、設備與介質獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120336102B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-19發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510828807.2，技術領域涉及：G06F11/22；該發明授權一種基于AI技術的存儲器測試方法、設備與介質是由楊文;趙周星;張杰;施樹佩設計研發完成，并于2025-06-20向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種基于AI技術的存儲器測試方法、設備與介質在說明書摘要公布了：本發明公開了一種基于AI技術的存儲器測試方法、設備與介質，包括以下步驟：1獲取待測試存儲器的結構解析數據和存儲器類型描述信息，生成用于表達測試目標的測試意圖向量；2以所述測試意圖向量為輸入，生成測試激勵序列；3執行所述測試激勵序列，對存儲陣列進行多周期測試，形成多模態響應特征集；4將所述多模態響應特征集輸入圖神經網絡中，進行故障類型識別與因果路徑推理，生成故障標簽序列與推理路徑圖；5基于推理路徑圖與測試激勵序列的特征差異，進行深度生成模型的權重參數更新；6基于更新后的深度生成模型生成測試激勵序列進行存儲器測試。本發明可有效提升存儲器測試的智能化水平及測試覆蓋率。
本發明授權一種基于AI技術的存儲器測試方法、設備與介質在權利要求書中公布了：1.一種基于AI技術的存儲器測試方法，其特征在于，包括以下步驟： 1獲取待測試存儲器的結構解析數據和存儲器類型描述信息，根據待測試存儲器的結構解析數據和存儲器類型描述信息，生成用于表達測試目標的測試意圖向量； 其中，結構解析數據包括待測試存儲器的存儲單元排列矩陣、位線字線結構及冗余映射關系； 2以所述測試意圖向量為輸入，結合存儲器目標故障模式數據庫，輸入至預設的深度生成模型中，構建故障覆蓋語義表示，生成測試激勵序列； 3執行所述測試激勵序列，對存儲陣列進行多周期測試，采集測試過程中的電信號數據、操作時序軌跡及運行環境參數，形成多模態響應特征集； 4將所述多模態響應特征集輸入圖神經網絡中，進行故障類型識別與因果路徑推理，生成故障標簽序列與推理路徑圖； 5基于推理路徑圖與測試激勵序列的特征差異，進行深度生成模型的權重參數更新； 6基于更新后的深度生成模型生成測試激勵序列進行存儲器測試。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人湖北長江萬潤半導體技術有限公司，其通訊地址為：430081 湖北省武漢市青山區建設二路1號武鋼數字大廈9F；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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