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龍圖騰網(wǎng)獲悉中國(guó)科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所申請(qǐng)的專利一種用于檢驗(yàn)超大口徑凹非球面反射鏡的光學(xué)系統(tǒng)獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN111458111B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-19發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202010446277.2，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01M11/02；該發(fā)明授權(quán)一種用于檢驗(yàn)超大口徑凹非球面反射鏡的光學(xué)系統(tǒng)是由趙鵬瑋;鄭列華設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2020-05-25向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本一種用于檢驗(yàn)超大口徑凹非球面反射鏡的光學(xué)系統(tǒng)在說明書摘要公布了：本發(fā)明公開了一種用于檢驗(yàn)超大口徑凹非球面反射鏡的光學(xué)系統(tǒng)。檢驗(yàn)光學(xué)系統(tǒng)由激光干涉儀和自準(zhǔn)校正透鏡組組成。自準(zhǔn)校正透鏡組位于待檢凹非球面反射鏡的共軛后點(diǎn)前。激光干涉儀出射的光線經(jīng)過自準(zhǔn)校正透鏡的折射成像在待檢凹非球面反射鏡的共軛后點(diǎn)。經(jīng)待檢反射鏡反射后光線成像在待檢凹非球面的共軛前點(diǎn)。反射光線經(jīng)過自準(zhǔn)校正透鏡組折射，在遠(yuǎn)離待檢凹非球面反射鏡的表面自準(zhǔn)反射，按原路返回干涉儀。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于：該光學(xué)系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)超大口徑以及超大相對(duì)孔徑凹非球面反射鏡的高精度檢驗(yàn)。同時(shí)，光學(xué)系統(tǒng)的光路長(zhǎng)度較短，自準(zhǔn)校正透鏡組的口徑較小，便于加工及裝調(diào)。

本發(fā)明授權(quán)一種用于檢驗(yàn)超大口徑凹非球面反射鏡的光學(xué)系統(tǒng)在權(quán)利要求書中公布了：1.一種用于檢驗(yàn)超大口徑凹非球面反射鏡的光學(xué)系統(tǒng)，系統(tǒng)由激光干涉儀1，自準(zhǔn)校正透鏡組2組成，其特征在于: 光線從所述的激光干涉儀1發(fā)出，經(jīng)過透鏡組2，入射到待檢凹非球面反射鏡上，經(jīng)過待檢凹非球面反射鏡的反射，入射到自準(zhǔn)校正透鏡組2；光線經(jīng)自準(zhǔn)校正透鏡組2上反射膜自準(zhǔn)反射后，光線按原路返回至激光干涉儀1；待檢凹非球面反射鏡的入射和出射光線分別經(jīng)過其共軛后點(diǎn)和共軛前點(diǎn)，自準(zhǔn)校正透鏡組2位于共軛后點(diǎn)前; 所述的自準(zhǔn)校正透鏡組2的光焦度為正，由兩片貼合的透鏡組成，分別為負(fù)透鏡和正透鏡，自準(zhǔn)校正透鏡與待檢凹非球面反射鏡的口徑比不大于0.1；自準(zhǔn)校正透鏡組2中靠近激光干涉儀1的第一個(gè)透鏡表面鍍環(huán)形反射膜，中心留有供激光干涉儀1檢驗(yàn)光束進(jìn)出的圓孔。

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