中芯國際集成電路制造(上海)有限公司;中芯國際集成電路制造(北京)有限公司林熙獲國家專利權(quán)
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龍圖騰網(wǎng)獲悉中芯國際集成電路制造(上海)有限公司;中芯國際集成電路制造(北京)有限公司申請的專利半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其形成方法獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán),本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予,授權(quán)公告號(hào)為:CN112242347B 。
龍圖騰網(wǎng)通過國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-19發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉:該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號(hào)為:201910649548.1,技術(shù)領(lǐng)域涉及:H01L21/768;該發(fā)明授權(quán)半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其形成方法是由林熙;王勝設(shè)計(jì)研發(fā)完成,并于2019-07-18向國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。
本半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其形成方法在說明書摘要公布了:一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其形成方法,方法包括:提供襯底;在所述襯底表面形成停止層;在所述停止層表面形成介電層;在所述介電層內(nèi)形成第一開口,所述第一開口暴露出所述停止層表面;對所述第一開口底部的停止層進(jìn)行改性處理,形成改性層;去除所述改性層,形成第二開口,所述第二開口暴露出所述襯底表面。所形成的半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)性能得到提高。
本發(fā)明授權(quán)半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)及其形成方法在權(quán)利要求書中公布了:1.一種半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的形成方法,其特征在于,包括: 提供襯底; 在所述襯底表面形成停止層; 在所述停止層表面形成介電層; 在所述介電層內(nèi)形成第一開口,所述第一開口暴露出所述停止層表面; 對所述第一開口底部的停止層進(jìn)行改性處理,形成改性層,所述改性層由所述停止層經(jīng)過化學(xué)反應(yīng)形成; 采用濕法刻蝕工藝去除所述改性層,形成第二開口,所述第二開口暴露出所述襯底表面,所述改性層與所述停止層具有較大的刻蝕選擇比,所述改性層與所述介電層具有較大的刻蝕選擇比。
如需購買、轉(zhuǎn)讓、實(shí)施、許可或投資類似專利技術(shù),可聯(lián)系本專利的申請人或?qū)@麢?quán)人中芯國際集成電路制造(上海)有限公司;中芯國際集成電路制造(北京)有限公司,其通訊地址為:201203 上海市浦東新區(qū)張江路18號(hào);或者聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)官方客服,聯(lián)系龍圖騰網(wǎng)可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網(wǎng)”。
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