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龍圖騰網(wǎng)獲悉濟(jì)寧職業(yè)技術(shù)學(xué)院申請(qǐng)的專利鏡片防藍(lán)光膜層的光譜衰減一致性檢測(cè)方法及系統(tǒng)獲國(guó)家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號(hào)為：CN120293493B 。

龍圖騰網(wǎng)通過(guò)國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-22發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請(qǐng)?zhí)?專利號(hào)為：202510771498.X，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01M11/02；該發(fā)明授權(quán)鏡片防藍(lán)光膜層的光譜衰減一致性檢測(cè)方法及系統(tǒng)是由譚書(shū)貞;孫敏;馬翠萍;姬姍姍;顏世超;劉杰;孫俊生;吳志林;梁維卓;李曉雨;王瑞瑾設(shè)計(jì)研發(fā)完成，并于2025-06-11向國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請(qǐng)。

本鏡片防藍(lán)光膜層的光譜衰減一致性檢測(cè)方法及系統(tǒng)在說(shuō)明書(shū)摘要公布了：本發(fā)明涉及光譜衰減檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，揭露了鏡片防藍(lán)光膜層的光譜衰減一致性檢測(cè)方法及系統(tǒng)，所述方法包括：對(duì)防藍(lán)光鏡片的防藍(lán)光膜層進(jìn)行梯度運(yùn)算，得到所述防藍(lán)光膜層的局部入射角；采集所述防藍(lán)光膜層的折射率?徑向坐標(biāo)數(shù)據(jù)集，對(duì)所述折射率?徑向坐標(biāo)數(shù)據(jù)集進(jìn)行非線性擬合，得到所述防藍(lán)光膜層的折射率擬合函數(shù)；基于所述防藍(lán)光膜層中所有層級(jí)的厚度矩陣和所述折射率擬合函數(shù)的因變量，通過(guò)光學(xué)厚度計(jì)算公式計(jì)算出所述防藍(lán)光膜層的總光學(xué)厚度；本發(fā)明能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)防藍(lán)光膜層光譜衰減一致性的精準(zhǔn)檢測(cè)與評(píng)估。

本發(fā)明授權(quán)鏡片防藍(lán)光膜層的光譜衰減一致性檢測(cè)方法及系統(tǒng)在權(quán)利要求書(shū)中公布了：1.鏡片防藍(lán)光膜層的光譜衰減一致性檢測(cè)方法，其特征在于，所述方法包括： S1、對(duì)防藍(lán)光鏡片的防藍(lán)光膜層進(jìn)行梯度運(yùn)算，得到所述防藍(lán)光膜層的局部入射角； 獲取所述防藍(lán)光膜層的形貌數(shù)據(jù)，根據(jù)所述形貌數(shù)據(jù)構(gòu)建所述防藍(lán)光膜層的三維高度模型； 將所述三維高度模型離散為所述防藍(lán)光膜層的二維網(wǎng)格數(shù)據(jù)，計(jì)算所述二維網(wǎng)格數(shù)據(jù)中的網(wǎng)格點(diǎn)的偏導(dǎo)數(shù)； 根據(jù)所述偏導(dǎo)數(shù)形成所述三維高度模型的梯度向量場(chǎng)； 基于所述梯度向量場(chǎng)確定所述防藍(lán)光膜層的中各個(gè)表面點(diǎn)的法向量； 對(duì)所述法向量和所述表面點(diǎn)的入射光線方向向量進(jìn)行向量點(diǎn)積，得到夾角； 將所述夾角的余弦值確定為所述防藍(lán)光膜層的局部入射角； S2、采集所述防藍(lán)光膜層的折射率-徑向坐標(biāo)數(shù)據(jù)集，對(duì)所述折射率-徑向坐標(biāo)數(shù)據(jù)集進(jìn)行非線性擬合，得到所述防藍(lán)光膜層的折射率擬合函數(shù)； S3、基于所述防藍(lán)光膜層中所有層級(jí)的厚度矩陣和所述折射率擬合函數(shù)的因變量，通過(guò)光學(xué)厚度計(jì)算公式計(jì)算出所述防藍(lán)光膜層的總光學(xué)厚度； 對(duì)所述防藍(lán)光膜層進(jìn)行層級(jí)分割，得到所述防藍(lán)光膜層的多個(gè)層級(jí)； 以所述防藍(lán)光鏡片的鏡片中心為坐標(biāo)系中心，并構(gòu)建所述層級(jí)的平面坐標(biāo)系； 按照固定間距在所述平面坐標(biāo)系的橫向和縱向方向采集所述層級(jí)中每個(gè)網(wǎng)格點(diǎn)的厚度值； 將所述厚度值按照所述網(wǎng)格點(diǎn)的位置進(jìn)行排序，得到所述層級(jí)的厚度矩陣； 將所述折射率擬合函數(shù)的因變量映射到所述平面坐標(biāo)系上，得到所述層級(jí)在所述平面坐標(biāo)系上的折射率分布值； 將所述厚度矩陣和所述折射率分布值進(jìn)行光學(xué)厚度計(jì)算，得到所述防藍(lán)光膜層的總光學(xué)厚度，其中，所述光學(xué)厚度計(jì)算公式如下： ； 式中，表示總光學(xué)厚度，表示所述層級(jí)的標(biāo)識(shí)，表示所述層級(jí)的總數(shù)，表示第層級(jí)的所述折射率分布值，表示第層級(jí)的所述厚度矩陣，表示所述平面坐標(biāo)系的二維坐標(biāo)； S4、根據(jù)所述總光學(xué)厚度和所述厚度矩陣計(jì)算所述防藍(lán)光膜層的等效折射率，根據(jù)所述局部入射角及所述等效折射率，通過(guò)斯涅爾定律計(jì)算所述防藍(lán)光膜層的折射角； S5、對(duì)所述總光學(xué)厚度和所述折射角的余弦值進(jìn)行薄膜干涉解算，得到所述防藍(lán)光膜層的理論透射中心波長(zhǎng)； 對(duì)所述總光學(xué)厚度和所述折射角的余弦值進(jìn)行乘積，得到所述防藍(lán)光膜層的光程差； 根據(jù)薄膜光學(xué)理論中光程差與波長(zhǎng)的整數(shù)倍關(guān)系，構(gòu)建所述光程差和所述防藍(lán)光膜層的理論透射中心波長(zhǎng)的干涉條件公式； 對(duì)所述干涉條件公式中的膜層折射率進(jìn)行修正，得到所述防藍(lán)光膜層的非線性方程； 對(duì)所述非線性方程進(jìn)行迭代求解，得到所述理論透射中心波長(zhǎng)； 獲取所述防藍(lán)光膜層的實(shí)測(cè)透射中心波長(zhǎng)； S6、生成所述實(shí)測(cè)透射中心波長(zhǎng)與所述理論透射中心波長(zhǎng)的偏差值，基于所述偏差值判定所述防藍(lán)光膜層的光譜衰減一致性等級(jí)。

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