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龍圖騰網(wǎng)獲悉河北唯佳金屬網(wǎng)股份有限公司申請的專利一種金屬網(wǎng)的質(zhì)量檢測方法、系統(tǒng)、裝置及介質(zhì)獲國家發(fā)明授權(quán)專利權(quán)，本發(fā)明授權(quán)專利權(quán)由國家知識產(chǎn)權(quán)局授予，授權(quán)公告號為：CN120427645B 。

龍圖騰網(wǎng)通過國家知識產(chǎn)權(quán)局官網(wǎng)在2025-08-29發(fā)布的發(fā)明授權(quán)授權(quán)公告中獲悉：該發(fā)明授權(quán)的專利申請?zhí)?專利號為：202510926185.7，技術(shù)領(lǐng)域涉及：G01N21/88；該發(fā)明授權(quán)一種金屬網(wǎng)的質(zhì)量檢測方法、系統(tǒng)、裝置及介質(zhì)是由韓子超;李洋;強二闊;趙明周;王文華設(shè)計研發(fā)完成，并于2025-07-07向國家知識產(chǎn)權(quán)局提交的專利申請。

本一種金屬網(wǎng)的質(zhì)量檢測方法、系統(tǒng)、裝置及介質(zhì)在說明書摘要公布了：本申請涉及金屬網(wǎng)質(zhì)量檢測技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種金屬網(wǎng)的質(zhì)量檢測方法、系統(tǒng)、裝置及介質(zhì)，該方法包括：通過分析各高光譜數(shù)據(jù)點與其所在聚類簇內(nèi)所有高光譜數(shù)據(jù)點之間距離的離散程度，并統(tǒng)計各高光譜數(shù)據(jù)點的相似波峰對數(shù)量，確定各高光譜數(shù)據(jù)點的光譜數(shù)據(jù)異常度；通過分析聚類簇內(nèi)數(shù)據(jù)點距離、波峰均值分布及鄰域差異，確定各高光譜數(shù)據(jù)點的反光干擾度；基于所述光譜數(shù)據(jù)異常度和所述反光干擾度，確定各高光譜數(shù)據(jù)點的可剔除度，以獲取待測金屬網(wǎng)的特征高光譜數(shù)據(jù)點，對待測金屬網(wǎng)的質(zhì)量進行檢測。本申請排除了金屬網(wǎng)表面的反光現(xiàn)象對金屬網(wǎng)質(zhì)量檢測的干擾，提高了金屬網(wǎng)質(zhì)量檢測的準確性。

本發(fā)明授權(quán)一種金屬網(wǎng)的質(zhì)量檢測方法、系統(tǒng)、裝置及介質(zhì)在權(quán)利要求書中公布了：1.一種金屬網(wǎng)的質(zhì)量檢測方法，其特征在于，該方法包括以下步驟： 獲取放置于標準檢測臺上的待測金屬網(wǎng)的高光譜圖； 對待測金屬網(wǎng)的高光譜圖中所有高光譜數(shù)據(jù)點聚類，分析各高光譜數(shù)據(jù)點與其所在聚類簇內(nèi)其他各個高光譜數(shù)據(jù)點之間光譜曲線上波峰的相似度，確定各高光譜數(shù)據(jù)點的相似波峰對；通過分析各高光譜數(shù)據(jù)點與其所在聚類簇內(nèi)所有高光譜數(shù)據(jù)點之間距離的離散程度，并統(tǒng)計各高光譜數(shù)據(jù)點的相似波峰對數(shù)量，確定各高光譜數(shù)據(jù)點的光譜數(shù)據(jù)異常度； 通過分析各高光譜數(shù)據(jù)點所在聚類簇內(nèi)所有高光譜數(shù)據(jù)點之間距離的最值分布，以及各高光譜數(shù)據(jù)點所在聚類簇內(nèi)每個高光譜數(shù)據(jù)點的光譜曲線上所有波峰值的平均分布，并結(jié)合各高光譜數(shù)據(jù)點與其所有相鄰高光譜數(shù)據(jù)點之間光譜曲線上所有波峰值平均分布的差異，確定各高光譜數(shù)據(jù)點的反光干擾度； 基于所述光譜數(shù)據(jù)異常度和所述反光干擾度，確定各高光譜數(shù)據(jù)點的可剔除度，以獲取待測金屬網(wǎng)的特征高光譜數(shù)據(jù)點，對待測金屬網(wǎng)的質(zhì)量進行檢測； 所述對待測金屬網(wǎng)的質(zhì)量進行檢測，包括： 計算待測金屬網(wǎng)的各聚類簇內(nèi)每個特征高光譜數(shù)據(jù)點的光譜曲線上所有吸收率的均值，作為每個特征高光譜數(shù)據(jù)點的代表光譜數(shù)據(jù)；獲取標準檢測臺的所有光譜數(shù)據(jù)，計算各聚類簇內(nèi)所有特征高光譜數(shù)據(jù)點的代表光譜數(shù)據(jù)與標準檢測臺的所有光譜數(shù)據(jù)之間的光譜相似性系數(shù)，將光譜相似性系數(shù)小于預(yù)設(shè)第一閾值的所有聚類簇內(nèi)全部特征高光譜數(shù)據(jù)點，作為待測金屬網(wǎng)的目標高光譜數(shù)據(jù)點； 獲取標準金屬網(wǎng)的所有光譜數(shù)據(jù)，計算所有目標高光譜數(shù)據(jù)點的代表光譜數(shù)據(jù)與標準金屬網(wǎng)的所有光譜數(shù)據(jù)之間的光譜相似性系數(shù)，記為特征系數(shù)，若特征系數(shù)大于或等于預(yù)設(shè)第二閾值，則待測金屬網(wǎng)質(zhì)量合格，反之，待測金屬網(wǎng)質(zhì)量不合格。

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