北京納米能源與系統研究所王中林獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉北京納米能源與系統研究所申請的專利一種對象的外觀探測系統、方法、裝置及電子設備獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN114545398B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-29發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202210190684.0，技術領域涉及：G01S13/88；該發明授權一種對象的外觀探測系統、方法、裝置及電子設備是由王中林;唐偉設計研發完成，并于2022-02-28向國家知識產權局提交的專利申請。
本一種對象的外觀探測系統、方法、裝置及電子設備在說明書摘要公布了：本申請公開一種對象的外觀探測系統、方法、裝置及電子設備，屬于雷達探測技術領域，該系統包括：反射板、雷達、電磁場探測器和計算設備，其中，反射板可對雷達發射的部分電磁波進行反射，雷達可接收反射板反射的第一電磁波和未被反射的第二電磁波探測到對象后的回波，電磁場探測器可測量第一電磁波和第二電磁波的回波干涉形成的磁場中不同位置處的磁場信息，然后，由計算設備讀取電磁場探測器測量到的不同位置處的磁場信息，基于建立的磁場信息與電磁波透過率之間的映射關系，確定各位置處的磁場信息對應的電磁波透過率，基于各位置對應的電磁波透過率，構建虛擬介質，模擬電磁波穿過虛擬介質時的衍射過程，得到對象的三維外觀數據并輸出。
本發明授權一種對象的外觀探測系統、方法、裝置及電子設備在權利要求書中公布了：1.一種對象的外觀探測系統，其特征在于，包括： 反射板，用于對雷達發射的部分電磁波進行反射； 所述雷達，用于發射電磁波，接收所述反射板反射的第一電磁波和未被所述反射板反射的第二電磁波探測到對象后的回波； 電磁場探測器，用于對所述第一電磁波和所述第二電磁波的回波干涉形成的磁場中不同位置處的磁場信息進行測量，每一位置處的磁場信息至少包括磁場強度； 計算設備，用于讀取所述電磁場探測器測量到的不同位置處的磁場信息，基于建立的磁場信息與電磁波透過率之間的映射關系，確定各位置處的磁場信息對應的電磁波透過率；基于各位置對應的電磁波透過率，構建虛擬介質；模擬電磁波穿過所述虛擬介質時的衍射過程，得到所述對象的三維外觀數據，輸出所述三維外觀數據。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人北京納米能源與系統研究所，其通訊地址為：101400 北京市懷柔區雁棲經濟開發區楊雁東一路8號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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1、本報告根據公開、合法渠道獲得相關數據和信息，力求客觀、公正，但并不保證數據的最終完整性和準確性。
2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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