西安電子科技大學閆貝獲國家專利權
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龍圖騰網獲悉西安電子科技大學申請的專利金屬構件腐蝕減薄缺陷檢測探頭及定量評估方法獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN115980174B 。
龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-08發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202211103530.X，技術領域涉及：G01N27/82；該發明授權金屬構件腐蝕減薄缺陷檢測探頭及定量評估方法是由閆貝;呂曉洲;史堯光;張維強;姚斌設計研發完成，并于2022-09-09向國家知識產權局提交的專利申請。
本金屬構件腐蝕減薄缺陷檢測探頭及定量評估方法在說明書摘要公布了：本發明公開了一種金屬構件腐蝕減薄缺陷檢測探頭及定量評估方法，所述探頭包括矩陣式排布的正方體透明密封艙陣列、矩陣式排布的正方形線圈陣列構成；所述每個密封艙內均充滿白色溶液與多個均勻噴涂黑色磁粉的空心塑料圓球；所述密封艙中心底部均有一個正方形線圈；所述空心塑料圓球幾何尺寸一致；本發明還提供上述探頭的檢測方法，能夠對在役金屬構件腐蝕減薄進行快速、高精度檢測，具有重要的工程應用價值。
本發明授權金屬構件腐蝕減薄缺陷檢測探頭及定量評估方法在權利要求書中公布了：1.金屬構件腐蝕減薄缺陷檢測探頭，其特征在于：包括矩陣式排布的正方體透明密封艙陣列（1）、矩陣式排布的正方形線圈陣列（4），正方體透明密封艙陣列（1）中每個正方體透明密封艙內的白色溶液（3）與空心塑料圓球（2）；所述正方形線圈陣列（4）固定于正方體透明密封艙陣列（1）底面中心位置且一個正方體密封艙底部固定一個正方形線圈；所述空心塑料圓球（2）外層為均勻分布的黑色磁粉涂層，所述空心塑料圓球（2）的密度小于白色溶液（3）的密度。
如需購買、轉讓、實施、許可或投資類似專利技術，可聯系本專利的申請人或專利權人西安電子科技大學，其通訊地址為：710071 陜西省西安市太白南路2號；或者聯系龍圖騰網官方客服，聯系龍圖騰網可撥打電話0551-65771310或微信搜索“龍圖騰網”。
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2、報告中的分析和結論僅反映本公司于發布本報告當日的職業理解，僅供參考使用，不能作為本公司承擔任何法律責任的依據或者憑證。
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