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龍圖騰網獲悉深圳超盈智能科技有限公司申請的專利一種存儲芯片的數據丟失檢測方法及系統獲國家發明授權專利權，本發明授權專利權由國家知識產權局授予，授權公告號為：CN120216406B 。

龍圖騰網通過國家知識產權局官網在2025-08-15發布的發明授權授權公告中獲悉：該發明授權的專利申請號/專利號為：202510690728.X，技術領域涉及：G06F12/1009；該發明授權一種存儲芯片的數據丟失檢測方法及系統是由夏俊杰;林華勝設計研發完成，并于2025-05-27向國家知識產權局提交的專利申請。

本一種存儲芯片的數據丟失檢測方法及系統在說明書摘要公布了：本發明提供了一種存儲芯片的數據丟失檢測方法及系統，涉及存儲芯片技術領域，方法包括：獲取存儲芯片的地址映射表；結合地址映射表，確定存儲芯片中兩兩存儲單元之間的故障耦合強度；結合故障耦合強度，建立與存儲單元故障概率相關的不同存儲單元之間的故障傳播模型；計算故障傳播模型的穩態解，并結合信息熵確定存儲芯片的潛在故障區域；生成潛在故障區域的差異化檢測路徑；按差異化檢測路徑對存儲芯片進行檢測；按檢測到的故障存儲單元的檢測先后順序進行依次修復；根據修復失敗的故障存儲單元數量輸出存儲芯片的數據丟失檢測結果。解決了容易漏檢故障鏈條和耦合效應的問題，提高了檢測準確性和檢測效率。

本發明授權一種存儲芯片的數據丟失檢測方法及系統在權利要求書中公布了：1.一種存儲芯片的數據丟失檢測方法，其特征在于，包括： S1：獲取所述存儲芯片的地址映射表； S2：結合所述地址映射表，確定所述存儲芯片中兩兩存儲單元之間的故障耦合強度； S3：結合所述故障耦合強度，建立與存儲單元故障概率相關的不同存儲單元之間故障傳播模型； S4：計算所述故障傳播模型的穩態解，并結合信息熵確定所述存儲芯片的潛在故障區域； S5：生成所述潛在故障區域的差異化檢測路徑； S6：按所述差異化檢測路徑對所述存儲芯片進行檢測； S7：按檢測到的故障存儲單元的檢測先后順序進行依次修復； S8：根據修復失敗的故障存儲單元數量輸出所述存儲芯片的數據丟失檢測結果； 其中，所述S2具體包括： S201：獲取所述存儲芯片的物理架構信息，其中，所述物理架構信息包括描述單個存儲單元中的單位電荷影響范圍的物理擴散尺度； S202：基于所述物理架構信息確定所述存儲芯片中各個存儲單元的物理三維坐標； S203：基于所述地址映射表建立所述存儲芯片的有向無環圖，其中，所述有向無環圖的節點為地址映射表反映出的存儲單元邏輯地址，所述有向無環圖的邊為在所述地址映射表中不同存儲單元之間的映射關系，邊屬性為兩個存儲單元之間的歷史交互次數； S204：根據所述存儲芯片的物理擴散尺度和所述有向無環圖，計算所述故障耦合強度； 其中，所述S4具體包括： S401：獲取所述存儲芯片中的故障存儲單元； S402：分別將所述故障存儲單元的存儲單元故障概率置為1代入所述故障傳播模型，更新所述故障傳播模型； S403：令更新后的故障傳播模型等于零，得到所述故障存儲單元相對應的穩態解，其中，各個所述穩態解組成穩態分布； S404：結合所述穩態解，通過信息熵確定所述存儲芯片的故障區域判別閾值； S405：保留大于所述故障區域判別閾值的目標穩態解，并將所述目標穩態解對應的存儲單元所形成的連通域作為所述潛在故障區域； 其中，所述差異化檢測路徑的表達式具體為： ； 其中，表示差異化檢測路徑，表示使得函數取最大值時的候選檢測路徑集合，表示所述潛在故障區域中存儲單元p至存儲單元q的檢測時間戳距當前時間戳的檢測時長，表示時間衰減因子，表示p與q的故障耦合強度。

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